آنالیز قطر ذرات IG-1000 Plus
ابزاری جهت ارزیابی توزیع اندازهی ذرات در محدودهی نانو و کمتر از نانو
IG-1000 Plus شیمادزو از متد induced grating) IG)، که بر اساس اصل جدید اندازه گیری اندازهی نانو ذرات با استفاده از پدیدهی dielectrophoresis و پراش نور طراحی شده است، بهره میگیرد.
در روش متداول پراکندگی نور، وضوح نور پراکنده شده توسط نانو ذرات با ابعاد کمتر از 100 نانومتر کاهش مییابد. به علاوه، در نانو ذرات با ابعاد کمتر از 10 نانومتر، محدودیتهای فیزیکی شناسایی پراکندگی نور را با مشکل روبرو میکنند؛ در نتیجه اندازه گیری اندازهی ذرات نیز مشکل خواهد بود.
در متد IG، به سبب عدم استفاده از فرآیند پراکندگی نور، محدویدتهای فیزیکی رفع شده است و نیازی به وارد کردن مقادیر ضریب شکست به عنوان شرایط اندازه گیری نمیباشد.
بنابراین، اندازه گیری آسان و با دقت بالای نانوذرات، به ویژه نانوذرات با ابعاد کمتر از 10 نانومتر در IG-1000 Plus شیمادزو امکان پذیر میباشد.
سایر محصولات مرتبط